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納米粒度儀及電位分析儀

APS-100高濃度納米粒度儀 Zeta-APS電位分析儀 ZetaZF400-電位分析儀 ZetaZA500-電位分析儀原液在線檢測分析儀 CHDF3000高分辨納米粒度儀 CHDF4000高分辨納米粒度儀納米粒度儀分析儀

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APS100美國MAS納米粒度儀

更新時(shí)間：2020-05-08

型號：APS100

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美國MAS納米粒度儀，APS 從聲衰減光譜測量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導(dǎo)率和溫度。
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Zeta ZA500型美國MAS ZetaAcoustic ZA500電位分析儀

更新時(shí)間：2020-05-11

型號：Zeta ZA500型

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美國MAS ZetaAcoustic ZA500電位分析，應(yīng)用科學(xué)公司發(fā)明電動聲波振幅（ESA）技術(shù)用于高百分比之固體 Zeta 表面測量。MAS將其*的專業(yè)知識應(yīng)用在 Zeta 電位和粒度分析儀器的設(shè)計(jì)，使其成為 MAS很強(qiáng)而有力的發(fā)明Zeta電位量測儀。
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美國MAS 超聲法納米粒度儀

更新時(shí)間：2020-11-25

型號：

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美國MAS 超聲法粒度儀及Zeta電位儀$n采用專門的電動聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限，該儀器可同時(shí)測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；
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APS100型美國MAS高濃度納米粒度儀

更新時(shí)間：2020-04-14

型號：APS100型

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美國MAS高濃度納米粒度儀 APS 從聲衰減光譜測量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導(dǎo)率和溫度。
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ZetaAPS型美國MAS納米粒度及Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2020-05-08

型號：ZetaAPS型

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美國MAS納米粒度及Zeta電位分析儀,可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。此儀器容易使用、測量精確。對于高達(dá)60%（體積）濃度的樣品，也無需進(jìn)行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進(jìn)行測量。
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CHDF3000型美國MAS高分辨納米粒度儀

更新時(shí)間：2020-04-09

型號：CHDF3000型

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美國MAS高分辨納米粒度儀 1】高分辨率粒度分布（PSD）測量新的技術(shù)，包括顆粒檢測高靈敏度、動態(tài)范圍和納米顆粒優(yōu)化分析。 2】粒子分餾的真實(shí) PSD 數(shù)據(jù)。無需對粒徑分布的形狀進(jìn)行假設(shè)。 3】精確非均勻樣品分析—包括納米顆粒—?dú)w功于其與顆粒密度無關(guān)的分析。 4】自動/無人操作。所有組件都在一個(gè)簡易單一窗口界面控制和操作。
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AREPA型美國MAS在線檢測粒度分析儀

更新時(shí)間：2020-04-09

型號：AREPA型

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美國MAS在線檢測粒度分析儀在線粒度測量，工業(yè)加工狀態(tài)，不必稀釋樣品經(jīng)硬件設(shè)計(jì)可全（24 hours/7 days）候運(yùn)作，無需移動部件實(shí)時(shí)控制的快速測量
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